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STS6200 数字集成电路测试系统

STS6200 数字集成电路测试系统

最高测试速率200MHz,存储深度128M。

具备512通道高速数字管脚,支持48通道高压选配。

百皮秒级定时边沿分辨率,提供精确的时序波形。

内置Per Pin TMU单元,具备纳秒级时间参数测试能力。

全新的矢量编辑软件,软件示波器调试功能。

最高支持8个数字槽位,2个模拟槽位选配。

丰富的模拟VI源模块选配,提供四线开尔文测量模式。

覆盖数字逻辑器件、大规模集成电路及接口电路测试。

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